X射线吸收精细结构谱仪
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1/人使用者
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1/次机时次数
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311/小时总时长
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2/次送样次数
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2/人收藏者
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收费标准
机时0元/小时送样详见检测项目 -
设备型号
XAFS300 -
当前状态
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管理员
黄敏 14780051160 -
放置地点
明月湖实验室14号楼1层106
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名称
X射线吸收精细结构谱仪
所属分类
X射线分析
型号
XAFS300
规格
产地
厂家
EASY
所属品牌
资产负责人
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联系电话
14780051160
联系邮箱
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
主要规格&技术指标
1.X射线管：Mo靶，管电压10~45kV，管电流1~40mA；
2.能量覆盖范围：5~20keV（需更换不同的弯晶单色器）；
3.能量分辨率（ΔE/E）：2~5×10-4@8keV；
4.重复性：同一单色器测量条件下，连续测量同一样品的能量漂移＜50meV；
5.晶体单色器：Si、Ge晶体等16种；
6.目前可测试XAFS的元素：Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn等；
2.能量覆盖范围：5~20keV（需更换不同的弯晶单色器）；
3.能量分辨率（ΔE/E）：2~5×10-4@8keV；
4.重复性：同一单色器测量条件下，连续测量同一样品的能量漂移＜50meV；
5.晶体单色器：Si、Ge晶体等16种；
6.目前可测试XAFS的元素：Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn等；
主要功能及特色
基于罗兰圆布置，无需同步辐射光源，使用实验室级X射线管作为光源，复色光经弯晶单色器单色化后，聚焦到样品上，使用高能量分辨率的硅漂移检测器采集信号，最终形成高质量的科研级XAFS谱图。
样本检测注意事项
1.样品体系：粉末、薄膜等。注意：样品组分尽量准确已知，严格按照XAFSmass计算称量。常用粘接剂：纤维素。压片模具直径11~13mm。
2.粉末样品送样前需提前研磨至400目以下，测试前需了解样品的ICP信息，粉末样品需求量取决于待测元素的质量含量，参考值为10 wt%以上需要100 mg、5-10 wt%需要300mg、5 wt%以下需要500mg。如样品量不够请携带ICP结果与测试老师讨论。
3.碳纸、薄膜类样品面积不小于1.0cm×1.5cm，在测试前请携带基底材料与膜层材料信息与测试老师讨论。
4.样品压实成型、无裂纹、颜色均匀。
5.常温下易挥发、易变质的样品暂不支持测试。
2.粉末样品送样前需提前研磨至400目以下，测试前需了解样品的ICP信息，粉末样品需求量取决于待测元素的质量含量，参考值为10 wt%以上需要100 mg、5-10 wt%需要300mg、5 wt%以下需要500mg。如样品量不够请携带ICP结果与测试老师讨论。
3.碳纸、薄膜类样品面积不小于1.0cm×1.5cm，在测试前请携带基底材料与膜层材料信息与测试老师讨论。
4.样品压实成型、无裂纹、颜色均匀。
5.常温下易挥发、易变质的样品暂不支持测试。
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